Sumber Aneka Karya Abadi - Your trusted partner for laboratory instrument

Search
 Analisa Ukuran Partikel Sub-Mikron dengan PIDS  (Polarization Intensity Differential Scattering)

Analisa Ukuran Partikel Sub-Mikron dengan PIDS (Polarization Intensity Differential Scattering)

Friday, 18 September 2015

Mengapa teknologi PIDS merupakan alternatif terbaik dalam pengukuran partikel berdiameter sub-mikron? 

     Partikel berdiameter sub-mikron memiliki intensitas hamburan cahaya yang hampir sama pada tiap sisi dengan bentuk dan intensitas yang hampir serupa. Hal ini dapat menyebabkan sulitnya membedakan pola fisik dari tiap partikel yang mengakibatkan ketidakakuratan ukuran dari partikel yang diperoleh.

     Berbeda dengan partikel besar yang memiliki hamburan cahaya yang kuat pada sudut yang rendah dan dapat dengan mudah terlihat berkas hamburan cahaya maksimal dan minimal (Gambar 1), artinya detektor ditempatkan dengan posisi sudut rendah relatif pada sistem optik dilengkapi dengan resolusi angular yang tepat dapat mampu mendeteksi ukuran partikel dari sisi maksimal dan minimal. Namun tidak demikian dengan partikel kecil hanya memiliki hamburan cahaya yang lemah dan tidak terlihat nilai maksima dan minimanya walaupun telah menggunakan pembacaan pada sudut yang besar (Gambar 1), sehingga mengakibatkan deteksi dan resolusi yang dihasilkan menjadi sulit diketahui. 

                         Gambar 1. Grafik Berkas Hamburan 

     Kebanyakan manufaktur instrument pengukuran partikel menggunakan variasi sudut dan fokus pada pengukuran dari hamburan cahaya . Hal ini dapat dilakukan, akan tetapi bukan solusi yang baik dan lengkap. Namun Beckman Coulter  mencetuskan sistem teknologi PIDS, yang merupakan solusi cerdas untuk masalah pengukuran partikel sub-mikron. Teknologi yang bekerja sangat mudah yang di dasarkan pada  teori MIE.

     Teknologi PIDS bergantung pada sifat alami dari cahaya yaitu sifat tranversal (tegak lurus arah gerak), sifat ini  terdiri dari sifat magnetik dan sifat elektrik pada sudut 90oC atau sifat elektrik/listrik yang bergerak naik dan turun yang disebut polarisasi vertikal.  Cahaya pada 3 panjang gelombang (yaitu 450nm, 600nm dan 900nm) secara berurutan mengenai sampel, dengan diawali secara vertikal kemudian polarisasi cahaya secara horisontal.

     LS 13 320 (Gambar 2) mengukur hamburan cahaya dari sampel secara keseluruhan dari semua sudut (besar dan kecil). Dengan menganalisa perbedaan antara radiasi cahaya horisontal dan vertikal untuk setiap panjang gelombang, maka akan diperoleh informasi mengenai ukuran partikel dari sampel. Penting untuk diingat bahwa Beckman mengukur perbedaan sinyal polarisasi vertikal dan horisontal bukan hanya nilai polarisasi. 

Gambar 2. LS 13 320 series, Laser Diffraction Particle Size Analyzer (sumber : www.beckmancoulter.com)

     Intensitas hamburan tiap sudut  diinformasikan dari sinyal PIDS, kemudian disusun dalam standard algoritma, kelebihan lain dari data yang dihasilkan oleh PIDS adalah cara interpretasi data sementara yang simpel dan cepat  serta menginformasikan apakah partikel sub-mikron ini benar-benar ada atau tidak, sebagaimana partikel besar yang tidak muncul akibat perbedaan sinyal oleh partikel kecil.-OR-

sumber : https://www.beckmancoulter.com/wsrportal/bibliography?docname=A-1995A.pdf

Previous Article

Promo Page

Monday, 07 September 2015
VIEW DETAILS

Next Article

Penentuan Ukuran Dan Konsentrasi Partikel Di Dalam Minyak

Monday, 05 October 2015
VIEW DETAILS